簡要描述:原子力顯微鏡該產(chǎn)品可以通過多樣化的應(yīng)用程序,不費(fèi)吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、最高分辨率的掃描圖像。
該產(chǎn)品可以通過多樣化的應(yīng)用程序,不費(fèi)吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、最高分辨率的掃描圖像。
納米級的顯微鏡
硬核級的科技進(jìn)步
- 鼎力相助時(shí)代前沿的科技研發(fā)
- 研究型AFM中采用的雙攝像頭系統(tǒng)
- 能全自動化實(shí)時(shí)更新海量數(shù)據(jù)
實(shí)現(xiàn)全自動技術(shù)的智能原子力顯微鏡
Park FX只需鼠標(biāo)一鍵操作,就能實(shí)現(xiàn)自動換針,以避免探針被污染或因操作不當(dāng)而導(dǎo)致的探針損壞等問題。用戶還可以根據(jù)提示,選擇不同的探針類型,應(yīng)用類型和使用信息等。
通過自動換針方式,用戶可輕松安全地進(jìn)行自動換針。利用裝有8個針盒和磁控機(jī)制的便利性,用戶無需操作便可安裝探針。
探針識別攝像頭可以加載探針芯片載體上的二維碼,提取并顯示每個可用探針的探針類型,應(yīng)用類型和使用信息等全部相關(guān)信息。
自動激光校準(zhǔn)功能將SLD光定位到懸臂梁的適當(dāng)位置,并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直和橫向位置。用戶只需簡單點(diǎn)擊,移動X,Y和Z軸便可得到毫不失真的高清掃描圖。
雙攝像頭系統(tǒng)
自動校準(zhǔn)探針和樣品位置
樣品攝像頭
樣品臺上最多可以同時(shí)放置四個不同量級的樣品。即便如此,樣品攝像頭也可以毫不費(fèi)力地定位到相關(guān)位置進(jìn)行精確掃描。
探針識別攝像頭
探針識別系統(tǒng)可以幫助用戶搜索相關(guān)探針的全部信息(包括探針類型,應(yīng)用類型和使用信息等)使研究工作事半功倍。只需一鍵便可輕松選擇您所需要的探針。
智能自動化
FX40擁有智能視覺系統(tǒng),能自動檢測探針是否正確定位。軟件界面通過定位加載探針的位置至納米級別,并在必要時(shí)生成錯誤狀態(tài)報(bào)告,同時(shí)將這些數(shù)據(jù)與成千上萬個可能發(fā)生的模擬問題進(jìn)行比較,以此不斷更新升級軟件。
原子力顯微鏡中最快速精確的真正非接觸模式
對于針尖樣品,非接觸模式展現(xiàn)控制力,距離達(dá)到了亞納米級別。Park FX40擁有快速且精確的非接觸模式。
環(huán)境傳感器
智能掃描儀顯示并儲存?zhèn)鞲衅鞯臏y量。傳感器主要測量基本的環(huán)境條件,如溫度,濕度,水平和振動。由此幫助用戶在不同環(huán)境條件下掃描圖像,為您篩選最佳的環(huán)境指標(biāo)。
安全的探針安裝系統(tǒng)
用戶可以自選手動或自動探針安裝功能,同時(shí)內(nèi)置的智能系統(tǒng)會自動檢測并在用戶錯誤安裝探針時(shí)發(fā)出警告,從而有效提高測量精準(zhǔn)度。
最佳AFM體驗(yàn)——專為FX設(shè)計(jì)的Park OS SmartScan
簡易單擊成像
設(shè)置
自動探針檢測,自動激光校準(zhǔn)
簡要的教學(xué)動畫分分鐘讓您學(xué)會如何進(jìn)行樣品放置以及儀器成像設(shè)置
1. 精準(zhǔn)定位
定位樣品位置
AFM自動執(zhí)行懸臂的頻率性掃描,接近樣品的Z移動臺, 然后自動聚焦,幫助您掃描任何您想要的區(qū)域。
2. 高清成像
自動識別探針
完成定位之后,系統(tǒng)會設(shè)置理想的參數(shù),連接懸臂并掃描樣品,直到為您掃出高解析度高分辨率的圖像。